ePSI算法+智能APM模块，重新定义光学测量精度极限

工业检测领域再迎技术革新！S lynx 2全新升级版正式发布，以「更好、更快、更智能」为核心，融合尖端光学技术与自动化工具，为3D光学计量学树立新标杆。无论面对光滑、阶梯状还是粗糙表面，它都能以亚纳米级精度轻松应对。

1.技术跨越：ePSI算法开启亚纳米时代

本次升级的核心亮点是全新 ePSI干涉算法的加入。这项技术突破带来三大革命性提升：

1.精度跃迁：测量噪声低至 0.1 nm（亚纳米级），堪称超光滑表面检测的终极解决方案

2.复杂表面征服者：对具有台阶或局部倾斜的样品实现无失真成像

3.抗干扰升级：彻底消除传统干涉测量中的条纹噪声与相位突变问题

2.智能进化：自动化程序模块（APM）重塑工作流

全新设计的APM模块让复杂检测流程变得前所未有的简单：1配方革命：

单测量配方（SMR）：一键保存全参数配置

多测量配方（MMR）：在多个位置自动复现扫描程

2.效率倍增：

减少90%人工干预

批量检测一致性提升200%

3.场景适配：特别适用于图案化晶圆、重复质检等高频任务

3.全能王者：多技术融合的精密引擎

S lynx 2的紧凑机身蕴藏惊人能量：

1.技术矩阵：同时集成多焦面叠加、共聚焦、干涉测量（含CSI与ePSI）

2.智能切换：系统自动匹配最佳技术方案，彻底告别手动调参

3.性能铁三角：

速度 – 毫秒级响应

精度 – 亚纳米级误差

兼容性 – 全表面类型通吃

4.为什么选择升级版S lynx 2？

1.航天级精度：0.1 nm分辨率满足最严苛标准

2.智能减负：APM模块让操作员专注价值决策

3.未来兼容：开放式架构支持后续功能扩展

S lynx 2的升级不仅是硬件的迭代，更是光学计量智能化的重要里程碑。它正在全球顶尖实验室和生产线中创造价值——您准备好拥抱这场精度革命了吗？