在当今高科技领域，从半导体芯片到生物医学设备，即使小如病毒的缺陷也可能引发严重后果。幸运的是，一种名为干涉测量的高精度技术，正凭借其“火眼金睛”的能力，让这些微小瑕疵无所遁形。今天，我们将深入探讨这一技术，并介绍Sensofar S neox 3D光学轮廓仪在这一领域的卓越应用。

干涉测量的应用范围极广。在半导体和光学行业，它能够识别芯片或透镜中比病毒更小的缺陷，确保产品可靠性；在天文学中，通过结合多台望远镜的光线，科学家能以超高分辨率观测遥远星系；在生物学领域，干涉测量允许对活细胞进行无损成像，无需使用染料或侵入性技术；此外，在地球观测方面，卫星利用干涉雷达（InSAR）监测毫米级的地表运动，用于地质灾害预警。

使用100倍干涉镜头

测量薄膜的三维轮廓图

值得一提的是，干涉测量的非接触特性使其特别适合检测脆弱或微结构表面，同时它还是光学计算等新兴技术的基础，助力数据以光速处理。在这其中，Sensofar的S neox 3D光学轮廓仪表现突出。该设备利用干涉测量原理，可精准捕捉薄膜表面的纳米级缺陷，例如由颗粒划伤导致的瑕疵。通过100倍干涉镜头，它能生成详细的三维轮廓图，直观展示缺陷的尺寸和高度信息。