北京仪光科技三大精密设备高校巡回交流会圆满收官_公司新闻_新闻资讯_北京仪光|SENSOFAR共聚焦白光干涉轮廓仪|徕卡显微镜|奥林巴斯显微镜|LINKAM冷热台|RMC超薄切片机

2026年4月20日至4月29日，由北京仪光科技有限公司主办的“三大精密设备高校巡回交流会”先后在天津工业大学机械工程学院与天津理工大学材料科学与工程学院顺利举行。本次活动以“精准表征，赋能科研”为主题，携泽攸科技台式扫描电镜、西班牙Sensofar三维共聚焦白光干涉仪、中观RigelScan智能手持式激光3D扫描仪重磅亮相，面向两校师生开展技术讲座与免费测样服务，累计接待咨询与测试百余人次，获得广大师生的一致好评。

01天津工业大学站（4月20日—4月24日）

首站活动在天津工业大学机械工程学院启动。4月20日上午举行技术交流会，工程师围绕三款设备的工作原理、典型应用场景及样品制备要点进行了系统讲解，并结合科研案例分析了不同表征手段的选择策略，现场师生就“台式扫描电子显微镜”“白光干涉与共聚焦模式切换”“3D激光扫描技术”等问题展开深入交流。

随后的免费测样环节中，师生带来金属断口、高分子薄膜、陶瓷涂层及复合材料切面等样品。多位同学利用泽攸台式电镜获得了清晰的纳米级形貌图像，并通过Sensofar白光干涉仪完成了表面粗糙度的精确测量，中观RigelScan手持扫描仪则帮助学生快速获取实物三维模型，并直接导入软件进行比对分析与再设计，有效缩短了科研表征周期。

02天津理工大学站（4月27日—4月29日）

应天津理工大学相关院系邀请，4月27日至29日，三大设备转战天津理工大学。活动延续“先讲后测”模式，首日开展设备简介与样品制备培训，随后两天集中开放预约测样。

来自材料科学与工程学院与机械学院的师生积极参与，围绕磨损机理研究、镀层质量检测及逆向工程设计等课题开展测试。学生们使用泽攸科技台式电镜观察样品，感受电子枪与样品仓真空分隔技术，Sensofar白光干涉仪为多位教师提供了纳米级精度的表面粗糙度与台阶高度数据；同时体验了中观RigelScan的测量方法。

03核心设备介绍：覆盖微观到宏观的全流程表征

1.泽攸科技 ZEM 20pro 台式扫描电子显微镜

采用电子枪与样品仓真空分隔技术，换样仅需30秒；具备3nm@20kV超高分辨率，并支持减速模式，可实现弱导电样品不喷金直接观察，大幅简化制样流程，提升观测效率。

2.西班牙 Sensofar S neox 三维共聚焦白光干涉仪

集成共聚焦、白光干涉、像移干涉、多焦面叠加四种3D测量技术，可对各类反射率表面进行纳米级精度的粗糙度、台阶高度及三维形貌分析，配套软件支持自动化参数统计与区域提取。

3.中观 RigelScan 智能手持式激光3D扫描仪

基于三角定位激光扫描技术，不受物体材质与颜色限制，具备计量级精度与高速扫描性能，适用于大尺寸工件逆向工程、尺寸偏差分析及数字化建模。

活动总结

为期十天的两站活动中，累计完成免费测试样品数十件，覆盖金属材料、无机非金属、高分子材料及复合材料等多个研究方向。参与师生普遍反馈，此次活动“设备先进、讲解专业、服务高效”，有效解决了日常科研中“表征难、周期长、成本高”的痛点。

本次巡回交流会的圆满举办，离不开天津工业大学机械工程学院与天津理工大学各相关单位的大力支持，也得益于泽攸科技、Sensofar、中观技术工程师团队的全程驻场保障。北京仪光科技将继续秉持“专业、高效、务实”的服务理念，持续走进更多高校与科研院所，为科研人员提供从毫米级、微米级到纳米级的全流程微观形貌分析解决方案。