首页
产品
案例
行业资讯
新品
技术
关于
联系
实际案例
工业检测
科研院所
农林
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于二氧化硅掩膜薄...
为获得所需的 1 nm 精确度,我们现在将 3D 光学轮廓仪 S neox(光谱反射法模式)作为测量 SiO 层厚度的一种快速且简便的方法。2
查看更多 >
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于医用植入体制造...
3D 光学轮廓仪 S neox 使加工专家能够识别出导致缺陷的刀具,以及在批量生产过程中跟踪其磨损情况,从而控制制造过程并改善其结果
查看更多 >
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于检测通过激光表...
共聚焦技术已被证明是一种行之有效的技术,可用于研究和表征凹痕的深度和直径,更重要的是,在激光加工开发过程中,它同样适用于研究和表征凹痕周围的再沉积材料高度
查看更多 >
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于对与激光诱导击...
共聚焦技术已被证明是一种行之有效的技术,适用于研究和表征不同 LIBS 仪器产生的烧蚀坑的大小、直径和深度
查看更多 >
Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于插入物的前沿测...
在S neox五轴仪上,一切皆有可能。陡峭的角度和几微米的小切削刃测量对于3D光学轮廓测量不再是问题。
查看更多 >
当前页:3/5/总记录:22条
首页
上一页
1
2
3
4
5
下一页
尾页
关于我们
公司简介
联系我们
新闻资讯
公司新闻
行业动态
产品介绍
西班牙SENSOFAR共聚焦白光干涉仪
徕卡光学显微镜
司特尔金相制样设备
蔡司(ZEISS)扫描电子显微镜
美国RMC半薄&超薄切片机
三维光学轮廓仪
显微镜配套设备
台式电镜&台阶仪&原位分析
西班牙SENSOFAR结构光三维轮廓仪
技术支持
服务支持
技术交流
010-56443878
北京仪光科技有限公司
- 关注微信公众号 -
版权所有:北京仪光科技有限公司
备案号:京ICP备2021017793号