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扫描电镜是一种广泛应用于材料科学、半导体工艺等领域的必备工具，它可以通过探测样品表面激发出来的电子信号，对物质微观形貌进行表征。在半导体工艺中，扫描电子显微镜被广泛应用于器件结构的实时检测和剖面分析方面，为生产和研发提供了其他测试分析仪器所无法提供的直接测量信息。

泽攸科技的ZEM18扫描电镜，可以实现高分辨率的表面形貌观测、元素分析、晶体结构分析等功能，适用于半导体材料的表征和分析。我们的扫描电镜可以帮助客户实现器件结构的实时检测和剖面分析，提高半导体器件的制造质量和性能稳定性。同时我们也可以为客户提供完整的解决方案，包括样品制备、测试分析和数据分析等环节，为客户提供更加全面的服务和支持。

本期内容，就让我们一起来欣赏ZEM18镜头下的半导体世界~

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