地质薄片自动显微扫描系统
总体描述 技术参数 产品特点

专门开发研制的岩矿样品全自动显微扫描系统,集成研究级专业偏光显微镜、高性能物镜、高性能彩色数码摄像头,配合定制的全自动拼图扫描系统,可快速获取清晰、完整、高衬度、全视野的高分辨率岩矿薄片显微图像。图像放大后,依然可清晰观察到薄片每个部分的显微细节,可极大拓展偏光显微镜的观察视域,且视域大小可任意变动。通过大视域观察,方便快速识别镜下岩石的结构、构造、显微地质现象和粗大矿物等。

系统特点及实际案例:

 

实测案例1

实测案例2

实测案例3

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