半自动台阶仪 JS100B
总体描述 技术参数 产品特点

国产半自动台阶仪JS100B/200B/300B,拥有高精度、高分解能力,搭配一体花岗岩结构,提供稳定可靠的重复性测量。JS100B提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像,可无畸变的观察样品区,方便定位特征区域,同时探针扫描时可实时观察扫描区域。

应用范围

▲ 刻蚀、沉积和薄膜等厚度测量

▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翘曲度等材料表面参数测量

▲ 各式薄膜等应力测量

▲ 3D扫描成像

▲ 计划任务和多点扫描

系统组成

▲ 一体式台阶仪

选配品

▲ 高度校准标样

软件界面

扫描图

                                                                                                    18nm样品

                                                                                                    68um样品

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