SEM热电芯片台可搭配电学测试,兼容指定型号扫描电镜,芯片兼容TEM-MEMS原位芯片样品杆。
可搭配电学测试,兼容指定型号扫描电镜,芯片兼容TEM-MEMS原位芯片样品杆。
版权所有:北京仪光科技有限公司 备案号:京ICP备2021017793号