徕卡Visoria P 偏光显微镜
总体描述 技术参数 产品特点

Visoria P 偏光显微镜是专为日常材料检验设计的专业设备,凭借偏振光技术、智能化功能与人体工学设计,可高效研究材料及地质样品的光学特性,广泛适用于材料科学、地质学、工业质检等领域,助力提升检验流程的效率、准确性与操作舒适性。

一、核心优势:效率、舒适与空间优化

1. 无目镜数字工作模式,革新操作体验

采用数字式显微镜设计,打破传统目镜观察局限,带来多维度便利:

  • 舒适工作姿势:直接在平板电脑上查看样品图像,无需长时间低头或固定姿势,从根源减少颈部、眼部劳损。
  • 高效协作与记录:快速呈现检验步骤、实时记录图像结果,可即时与同事共享图像并讨论,避免传统记录的繁琐流程。
  • 节省工作台空间:无需额外连接电脑,设备集成度高,大幅简化工作台布局,尤其适合空间有限的实验室或质检工位。

2. 智能光强管理,减少手动操作耗时

针对检验中 “频繁调整参数” 的痛点,通过编码功能与自动调节技术,将更多时间聚焦于样品观察:

  • 自动适配光强:改变放大倍率或观察方式(如明场 / 暗场切换)时,无需手动调整亮度 —— 显微镜的光强管理功能会基于编码信息,自动将照明设置调节至最优光强,避免反复试错。
  • 稳定观察条件:固定光强参数标准,确保同一样品或同批次样品在不同操作时段的照明一致性,减少因亮度差异导致的判断误差。

3. Enersight 软件平台,简化工作流程

搭配 Enersight 软件平台,为材料检验提供全流程数字化支持,界面直观且功能贴合实际需求:

核心功能 作用与价值
层厚测量 精准确定材料涂层或多层结构的厚度,适用于涂层质量检验、薄膜材料分析等场景
XY 拼接(手动载物台) 整合手动载物台移动数据,实现更大视野、更高分辨率的样品图像拼接,清晰呈现大尺寸样品的整体结构
景深扩展(EDOF) 采集样品不同深度的清晰图像并融合,解决传统显微镜 “局部清晰、整体模糊” 问题,尤其适合表面不平整的材料
快速亮度调节 一键调用理想照明与相机参数,无需手动微调,加速图像采集效率
照明不均校正 自动消除因照明差异产生的图像阴影,优化图像质量,提升细节识别准确性
多观察方式图像合并 融合明场、暗场等不同观察方式的图像,全面呈现样品特性,帮助发现单一观察方式下隐藏的细节

二、偏光显微成像技术:原理与观察方式

Visoria P 的核心竞争力在于专业偏光成像技术,通过精准组件与多模式观察,揭示非偏光显微镜无法呈现的样品光学特性。

1. 核心组件:保障成像精度

  • 低应力偏光物镜:减少物镜自身应力对偏振光的干扰,确保样品光学特性的真实呈现。
  • 物镜转盘(单独定心):为每个物镜单独校准中心,避免切换物镜时的视场偏移,保证观察连续性。
  • 360° 旋转载物台:灵活调整样品角度,便于从不同方向观察双折射现象,深入分析样品结构。
  • 特定补偿器:辅助量化分析样品的双折射程度,提升光学特性判断的准确性。

2. 三大观察方式:适配不同检验需求

观察方式 操作原理 核心用途
平行偏振光 偏光片(起偏器)与检偏镜呈平行状态 清晰观察样品的结构细节与特征颜色,用于初步识别样品的外观属性
正交 / 圆偏振光 正交:偏光片与检偏镜呈 90° 交叉;圆偏振:在两者间插入四分之一波片...  
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