
Visoria P 偏光显微镜是专为日常材料检验设计的专业设备,凭借偏振光技术、智能化功能与人体工学设计,可高效研究材料及地质样品的光学特性,广泛适用于材料科学、地质学、工业质检等领域,助力提升检验流程的效率、准确性与操作舒适性。
采用数字式显微镜设计,打破传统目镜观察局限,带来多维度便利:

针对检验中 “频繁调整参数” 的痛点,通过编码功能与自动调节技术,将更多时间聚焦于样品观察:
搭配 Enersight 软件平台,为材料检验提供全流程数字化支持,界面直观且功能贴合实际需求:
| 核心功能 | 作用与价值 |
|---|---|
| 层厚测量 | 精准确定材料涂层或多层结构的厚度,适用于涂层质量检验、薄膜材料分析等场景 |
| XY 拼接(手动载物台) | 整合手动载物台移动数据,实现更大视野、更高分辨率的样品图像拼接,清晰呈现大尺寸样品的整体结构 |
| 景深扩展(EDOF) | 采集样品不同深度的清晰图像并融合,解决传统显微镜 “局部清晰、整体模糊” 问题,尤其适合表面不平整的材料 |
| 快速亮度调节 | 一键调用理想照明与相机参数,无需手动微调,加速图像采集效率 |
| 照明不均校正 | 自动消除因照明差异产生的图像阴影,优化图像质量,提升细节识别准确性 |
| 多观察方式图像合并 | 融合明场、暗场等不同观察方式的图像,全面呈现样品特性,帮助发现单一观察方式下隐藏的细节 |
Visoria P 的核心竞争力在于专业偏光成像技术,通过精准组件与多模式观察,揭示非偏光显微镜无法呈现的样品光学特性。
| 观察方式 | 操作原理 | 核心用途 |
|---|---|---|
| 平行偏振光 | 偏光片(起偏器)与检偏镜呈平行状态 | 清晰观察样品的结构细节与特征颜色,用于初步识别样品的外观属性 |
| 正交 / 圆偏振光 | 正交:偏光片与检偏镜呈 90° 交叉;圆偏振:在两者间插入四分之一波片... |
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