蔡司双束电镜Crossbeam系列(FIB-SEM)

蔡司双束电镜Crossbeam系列：专为高通量3D分析和样品制备量身打造的FIB-SEM 蔡司双束电镜Crossbeam系列结合了高分辨率场发射扫描电镜（FE-...

蔡司离子束显微镜ORION NanoFab

集3种聚焦离子束于一身的显微镜，可以实现亚10nm结构的超高精度加工快速、精准的亚10纳米结构加工。借助ORIONNanoFab显微镜可在镓、氖及氦离子束之间实...

TESCAN超高分辨率场发射电镜MAGNA

TESCANMAGNA在低电压下具有极佳的分辨率和优异的性能，尤为适用于纳米表征TESCANMAGNA 是一款功能极其强大的分析仪器，可用于表征纳米材料的表面以...

TESCAN AMBER 高分辨率双束聚焦扫描电镜系统（F...

TESCANAMBERTESCANAMBER 是一款双束（FIB-SEM）聚焦扫描电镜系统系统，可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求，在提供无与伦比的图像...

TESCAN AMBER X 高分辨氙离子源双束聚焦扫描电镜...

TESCANAMBERX等离子FIB和无漏磁超高分辨场发射扫描电镜的完美结合，无限扩展在材料表征领域的应用TESCANAMBERX 是完美结合了分析型等离子FI...

TESCAN SOLARIS 超高分辨双束聚焦扫描电镜（FIB-...

TESCANSOLARISZUI先进的纳米加工能力，挑战样品制备质量的极限 TESCANSOLARIS 是一款镓离子源的FIB-SEM系统，适用...

TESCAN SOLARIS 超高分辨氙离子源双束聚焦扫描电...

TESCANSOLARISX大尺寸试样进行高效率制备和高分辨表征的解决方案TESCANSOLARISX是半导体和材料表征中最具挑战性的物理失效分析应用的平台，具...